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PostPosted: Thu May 27, 2010 11:25 am 
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Peut-on utiliser la partie SIFT pour iterer
dans une meme image et detecter des zones clonees.
Si oui, jusqu'a quelle taille minimun
(qq pixels carres par exemple ou une centaine) ?
Merci !


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PostPosted: Thu May 27, 2010 3:05 pm 
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Autopano n'applique la recherche de points de contrôle par SIFT que sur des paires d'images (tout se passe comme si il essayait toutes les paires d'images possibles!)

On peut tricher et lui soumettre la même image sous deux noms différents (il m'arrive de le faire et dans ce cas le RMS est nul, tous les points de contrôle coïncident.) Il faudrait donc essayer pour voir si dans le cas d'un clonage d'une partie de l'image il sélectionne des points de contrôle sur des emplacements clonés, mais cette méthode me semble très aléatoire !

Une autre méthode, probablement préférable, serait de découper l'image en sous-rectangles (sans recouvrement) et de voir s'il trouve des points contrôle entre les différents morceaux d'image. Si par exemple il ne trouve pas de point de contrôle entre deux moitiés de l'image on en déduirait qu'il n'y a pas de clonage entre ces deux moitiés et on recommencerait en découpant chacune d'elles en deux (etc !)

... Ceci étant dit, la meilleure solution devrait être de contacter directement Alexandre.

_________________
Georges


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PostPosted: Thu May 27, 2010 10:15 pm 
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Oui, a faire soi-meme c'est infernal
et ca ne prouverait pas grand'chose
dans un sens ou dans l'autre.

C'est pourquoi je pose la question aux specialistes.

Alexandre doit lire les messages entre deux charettes de releases ! ;)


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PostPosted: Wed Jun 02, 2010 9:45 pm 
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Et moi et moi et moi !
Puis-je avoir une reponse ?
Oui,non,jamais,peut-etre,pas essaye,j'y reflechis,quelle question ?...
;)


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PostPosted: Thu Jun 03, 2010 3:11 pm 
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Utiliser SIFT pour detecter des patterns dans une image ?
Oui, ca marchera surement très bien pour les grosses zones, mais pas pour des petits patterns.
SIFT detecte des points et il en faut un paquet ( au moins 10 ) pour définir une zone.
Donc pas facile, mais faisable. Si on a beaucoup de pattern, l'avantage, c'est que en une passe, on pourrait detecter tous les morceaux ressemblant ( donc plus rapide que de la Normalized Cross Correlation qui est l'approche standard dans ce domaine )


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PostPosted: Thu Jun 03, 2010 11:31 pm 
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Merci Alexandre ,

donc si je comprends bien il faut 10 points dans une zone ;

la zone fait combien de pixels carres ? (a vue de nez bien sur)

Je pense a quelque chose du type
On decompose l'image en i,j carres


for i...
{
for j...
{

if( DetectPattern( SubSurface(i,j), FullImage))
{
OutputMessage();
}

}
}


ou SubSurface est parametrable en taille (pixels carres) et plus grand que i,j carre pour ne pas couper une zone par megarde.


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PostPosted: Fri Jun 04, 2010 10:57 am 
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Le probleme, c'est que SIFT n'est pas dense dans les pixels. Ca veut dire que la taille de zone dépendra du contenu. Avec du ciel bleu, pas de point sift et pas de zone du tout.

Le schema d'algo me semble correct.


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PostPosted: Fri Jun 04, 2010 10:19 pm 
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Pas moyen que Kolor concurrence "Tungstène" alors ?
Dommage !


Last edited by SimDC on Fri Jun 04, 2010 10:20 pm, edited 1 time in total.

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PostPosted: Mon Jun 07, 2010 3:26 pm 
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C'est quoi Tungstène ? ( A part un élément de la table périodique ... )


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PostPosted: Sat Jun 19, 2010 5:49 pm 
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Desole du retard :
http://www.lemondedelaphoto.com/TunGstene-un-logiciel-detecteur-de,4558.html


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